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本发明公开了一种芯片内部寄生参数的测试方法，并公开了用于实现该方法的装置，其中芯片内部寄生参数的测试方法包括获取待测引脚的高电平阈值电压；将待测引脚配置为定时器触发模式；将信号输出引脚置为高电平，使芯片内定时器的计数器开始计数，使寄生电容的...
该专利属于珠海泰为电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海泰为电子有限公司授权不得商用。

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