温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种ARVR树脂晶圆工艺，包括：制备待测树脂晶圆和基准试片，对待测树脂晶圆的微纳结构区域进行定位标记，得到检测样本；对检测样本和基准试片进行多维光谱表征，通过对比分析确定检测样本的材料不均匀分布区，并得到分子结构表征数据；对材料不...
该专利属于东莞市元立光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞市元立光电股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。