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本发明涉及半导体器件测试领域，尤其涉及一种用于LED器件寿命检测的数值拟合优化方法，该方法包括：采集LED器件的光通量时序数据；对光通量时序数据进行光通量变化分析，得到窗口调节因子并通过窗口调节因子进行动态窗口划分；通过对任二动态窗口进行距...
该专利属于延边大学所有，仅供学习研究参考，未经过延边大学授权不得商用。

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