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本发明属于集成电路设计技术领域，公开了一种应用于ADC差分电容阵列的互校准方法，所述方法包括如下步骤：步骤1：CDAC电容阵列中每位电容误差电压的提取和量化；步骤2：在ADC的输出码值中加上相应的误差码值。采用本发明提出的校准方法去除了传统...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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