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本申请公开了一种隔离芯片的通用测试方法、设备及可读存储介质，涉及电子器件测试技术领域，包括测试子板，所述测试子板将待测隔离芯片的引脚连接到测试底板上；所述测试底板根据隔离芯片的引脚分布规则设置了最大引脚数量，最大隔离通道数量，隔离通道方向设...
该专利属于北京中天星控科技开发有限公司成都分公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中天星控科技开发有限公司成都分公司授权不得商用。

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