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本发明公开一种多层PCB的曝光对位方法及装置，其中，多层PCB的曝光对位方法包括：对PCB各层进行多频谱扫描获得反馈信号；对各层界面进行共振聚焦处理得到特征数据；根据特征数据进行区块划分并形成量子点微标记；通过空间光调制进行选择性相位处理和...
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