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本技术公开了一种晶振测试座，涉及晶振技术领域。本技术包括测试盒，所述测试盒的侧面开设有散热口，所述安装组件的内壁固定连接有滤网，所述测试盒的侧面设置有升降组件，所述升降组件的表面固定连接有封闭块，所述通风组件的内壁固定连接有半导体制冷器，所...
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