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一种芯片自测试系统及测试方法，芯片自测试系统包括：测试机以及被测芯片，其中：测试机，与被测芯片耦接，适于向被测芯片烧录测试程序，获取被测芯片反馈的温感电压转换码以判断被测芯片是否异常；被测芯片包括电源管理模块、存储器、微控制器核、模数转换器...
该专利属于上海东软载波微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海东软载波微电子有限公司授权不得商用。

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