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本申请提供一种电子元器件测试系统及方法，所述电子元器件测试系统包括：测试板，测试板包括测试面；接触带，设置在测试板的测试面一侧，且接触带至少向待测器件的连接处提供第一接触面；转接点，通过连接线与接触带连接，且转接点位于测试面的一侧至少向测试...
该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有，仅供学习研究参考，未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。

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