下载用于检测和去除用于封装电子部件的模具上的污染物的装置和方法的技术资料

文档序号:44710129

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本发明涉及一种用于检测和去除用于封装电子部件、尤其是半导体的模具上的污染物的清洁装置,该清洁装置包括:用于照射模具表面的光源;光学检测器,该光学检测器用于检测模具表面上的被照射的污染物;用于去除污染物的可移动清洁器;以及用于清洁器的控制器。...
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