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本发明涉及LED可靠性测试的技术领域，提供了LED灯剩余寿命的预测方法、装置及设备，包括对LED灯的运行状态参数进行实时采集，得到运行状态数据、环境数据以及工作负载数据，将运行状态数据输入预设的退化模型进行分析，得到实时退化趋势曲线并分析出...
该专利属于深圳市艾明斯光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市艾明斯光电有限公司授权不得商用。

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