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本实用新型公开了一种接触式功能测试装置，包括有：一转接板，包括有一第一表面及一第二表面；一芯片容置区，设置于该转接板的第一表面，并用以容置一芯片；一个以上的穿孔，设置于该转接板的芯片容置区内，并贯穿该转接板；一个以上的探针，分别设置于该穿孔...
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