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一种控片回收方法及正常状态控片技术
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文档序号:44625696
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本申请提供一种控片回收方法及正常状态控片,该控片掺杂后的回收再生方法包括:对待回收控片的监测表面进行一次抛光处理,得到监测表面为第一粗糙度的中间状态控片,其中,监测表面用于进行掺杂浓度检测;对中间状态控片的监测表面进行二次抛光处理,得到监测...
该专利属于青岛惠科微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过青岛惠科微电子有限公司授权不得商用。
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