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本申请公开了一种集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质，主要涉及集成电路芯片技术领域，用以解决现有的‌集成电路芯片的故障检测涉及的方案‌：仅关注电流等单一环节的测试、仅通过初步测试确定合格，可能无法发现芯片在运行中的潜在风险的问题。包括：集...
该专利属于山东芯通微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东芯通微电子科技有限公司授权不得商用。

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