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用于匀光的超透镜、匀光系统和光束扫描系统技术方案
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下载用于匀光的超透镜、匀光系统和光束扫描系统的技术资料
文档序号:44585648
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本技术提供了一种用于匀光的超透镜、匀光系统和光束扫描系统。该超透镜用于对其上各处位置所接收到的光线至少提供整形相位,以对其上各处位置接收到的光线进行调制;经过调制后,超透镜上各处位置所接收到的光线按照对应的目标出射角进行出射;超透镜所出射的...
该专利属于深圳迈塔兰斯科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳迈塔兰斯科技有限公司授权不得商用。
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