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本发明公开了一种用于芯片上电的功能安全校验电路，包括电平转换电路、由MCU和低压域检测检验电路构成的主电源域以及由上电检测电路、超时计数电路组、初态电路、AON初态检测电路和二次重启电路构成的AON电源域；AON初态检测电路和低压域检测校验...
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