一种用于芯片上电的功能安全校验电路制造技术

本发明专利技术公开了一种用于芯片上电的功能安全校验电路，包括电平转换电路、由MCU和低压域检测检验电路构成的主电源域以及由上电检测电路、超时计数电路组、初态电路、AON初态检测电路和二次重启电路构成的AON电源域；AON初态检测电路和低压域检测校验电路同时对初态电路进行CRC校验；上电检测电路在上电时检测初态电路的电压是否超出检测阈值电压；二次重启电路用于判断是否对初态电路进行重启。本发明专利技术用两个不同电源域的电路联合进行CRC校验，并引入两个低电压比较器，能更准确的识别出上电异常；还设置二次重启电路，在出现任意上电问题时及时重启初态电路，减少对芯片内其他电路的影响，也省去反复焊接的必要性，大大提升效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及汽车电子传感器集成电路，具体涉及一种用于芯片上电的功能安全校验电路。

技术介绍

1、汽车轮胎内的tpms传感器采用电池供电，所以在传感器模组生产的时候有个焊接上电的过程，而焊接过程中由于工艺过程控制的一致性分布，会有对传感器模组进行一个短暂的不稳定上电过程，该不稳定期间持续时间一般在毫秒到秒级不等，使得传感器芯片部分会在这个电源不稳定期间电路状态正常工作和不能正常工作中间来回切换，从而导致了较大的器件损耗，也增大了安全隐患。

2、目前，传感器芯片由于需要匹配使用寿命的设计，往往具备超低功耗特性，并且在芯片里面设计了常带电区域，也叫aon电源域，aon电源域是只有电池彻底下电才会进行复位的电路，也就是说存在一些只依赖于一次上电的电路初态。针对传感器芯片上电时电压稳定性的检测，往往就是在aon电源域中利用上电检测电路进行检测的，但是这种检测效率差且准确性较低，不能够及时准确的对传感器芯片进行控制。例如，复杂模拟电路由于配置寄存器表多，无法用软件再次初始化，但是，如果等到电池彻底下电才进行复位，很可能影响系统状态，甚至导致中间计算过程出本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于芯片上电的功能安全校验电路，其特征在于，包括电平转换电路、由MCU和低压域检测检验电路构成的主电源域以及由上电检测电路、超时计数电路组、初态电路、AON初态检测电路和二次重启电路构成的AON电源域；

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片上电的功能安全校验电路，其特征在于，超时计数电路组包括超时计数器一和超时计数器二；

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片上电的功能安全校验电路，其特征在于，初态电路包括FIFO存储区、传感测量寄存器区、电源LDO和低频时钟电路；其中，电源LDO用于对FIFO存储区、传感测量寄存器区、低频时钟电路和MCU进行供电；FIFO...

【技术特征摘要】

1.一种用于芯片上电的功能安全校验电路，其特征在于，包括电平转换电路、由mcu和低压域检测检验电路构成的主电源域以及由上电检测电路、超时计数电路组、初态电路、aon初态检测电路和二次重启电路构成的aon电源域；

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片上电的功能安全校验电路，其特征在于，超时计数电路组包括超时计数器一和超时计数器二；

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片上电的功能安全校验电路，其特征在于，初态电路包括fifo存储区、传感测量寄存器区、电源ldo和低频时钟电路；其中，电源ldo用于对fifo存储区、传感测量寄存器区、低频时钟电路和mcu进行供电；fifo存储区和传感测量寄存器区均用于存储上电时的电压和初始化相关的参数，用作crc校验的计算依据；低频时钟电路经由电平转换电路为低压域检测校验电路提供低频时钟信号。

4.根据权利要求3所述的一种用于芯片上电的功能安全校验电路，其特征在于，aon初态检测电路包括crc_hv初态寄存器检测电路，低压域检测校验电路包括crc_lv初态寄存检测电路；

5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐红如，李曙光，
申请(专利权)人：琻捷电子科技江苏股份有限公司，
类型：发明
国别省市：