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本申请涉及一种比较器校准电路及比较器校准方法。该比较器校准电路包括：芯片测试插座与待测芯片相连；待测芯片包括多个比较器模块；继电器选择电路与芯片测试插座相连，用于根据测试需求从多个比较器模块中确定目标比较器模块；第一转换器与继电器选择电路相...
该专利属于苏州华太电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华太电子技术股份有限公司授权不得商用。

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