下载一种芯片式集成漏电流检测的方法及装置的技术资料

文档序号:44572509

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本发明涉及一种芯片式集成漏电流检测的方法及装置,其方法包括:通过芯片封装引线框架将第一线体和第二线体分别引入到目标芯片的输入回路和输出回路,其中第一线体和第二线体通过外部电源形成回路;在第一线体和第二线体上,分别布置数量相同且位置对称的多个...
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