一种芯片式集成漏电流检测的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:44572509 阅读:21 留言:0更新日期:2025-03-11 14:32
本发明专利技术涉及一种芯片式集成漏电流检测的方法及装置,其方法包括:通过芯片封装引线框架将第一线体和第二线体分别引入到目标芯片的输入回路和输出回路,其中第一线体和第二线体通过外部电源形成回路;在第一线体和第二线体上,分别布置数量相同且位置对称的多个磁敏传感单元;通过所述多个磁敏传感单元,测量多个预设位置的磁场数据;基于所述多个预设位置的磁场数据,计算目标芯片的漏电流。本发明专利技术通过芯片引线框架设计,将线体引入芯片内部,并通过磁敏传感单元测量磁场大小,从而实现了芯片漏电测量的小型化、集成化。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于芯片检测,具体涉及一种芯片式集成漏电流检测的方法及装置


技术介绍

1、用电需求日益增加,使得电力行业发展迅速,各类家用电器的规模也日渐丰富,家用的如某些类型的笔记本、微波炉、洗衣机等。如何保障住户的用电安全是一个重要课题,目前直流电在家用和工业设备中的应用日益广泛,造成漏电的原因包括二次回路绝缘材料不合格,或年久失修、严重老化,设备损伤缺陷,二次回路及设备受潮、进水等原因。直流系统也是产生直流漏电的一个主要原因,一般应用在水利、火电厂,各种变电站等地方。

2、漏电流检测可以通过很多方法检测,可以通过磁通门、hall、磁阻模组等方式测量;磁通门方式需要高磁导率软磁磁芯和复杂的电路检测电路才能实现,具有体积大、成本高的特点;hall、磁阻模组通过闭环模式,虽然结构和电流复杂度有一定的降低,但仍比较高。本专利技术专利通过高灵敏的磁阻探头检测输入电路和输出电路的差值信号来测量回路的漏电流大小,具有体积小、高集成化的特点。

3、目前主流的漏电流传感器主要都通过模块化进行测量,其原理主要为磁通门或者通过屏蔽环的形式屏蔽外磁场干扰本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,所述在输入回路和输出回路上分别布置数量相同且位置相对芯片中心对称的多个磁敏传感单元包括:

3.根据权利要求2所述的芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,所述第一线体两组磁敏传感单元和第二线体的两个磁敏传感单元形成惠斯通电桥。

4.根据权利要求1所述的芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,所述基于所述多个预设位置的磁场数据,计算目标芯片的漏电流包括:

5.根据权利要求4所述的芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,...

【技术特征摘要】

1.一种芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,所述在输入回路和输出回路上分别布置数量相同且位置相对芯片中心对称的多个磁敏传感单元包括:

3.根据权利要求2所述的芯片式集成漏电流检测的方法,其特征在于,所述第一线体两组磁敏传感单元和第二线体的两个磁敏传感单元形成惠斯通电桥。

4.根据权利要求1所述的芯片式集成漏电流检...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄春奎王秀郭钢
申请(专利权)人:湖北瑞磁芯科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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