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本申请提供一种器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质，所述测试方法，通过先确定标准器件的多种状态，根据预设测试点，对标准器件的多种状态进行失效测试，得到标准曲线组，也即得到了未失效器件的多种状态下的TDR曲线。在确定被测器件的多种状...
该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有，仅供学习研究参考，未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。

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