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本申请公开了一种AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法及系统，方法包括：提供一种撕裂将就信号测试系统包括测试主板、待测AMOLED显示屏模块；利用测试控制单元向显示控制单元发送驱动信号，驱动点亮AMOLED显示屏，撕裂将就信号模块通过撕裂...
该专利属于信利光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过信利光电股份有限公司授权不得商用。

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