一种AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法及系统技术方案

本申请公开了一种AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法及系统，方法包括：提供一种撕裂将就信号测试系统包括测试主板、待测AMOLED显示屏模块；利用测试控制单元向显示控制单元发送驱动信号，驱动点亮AMOLED显示屏，撕裂将就信号模块通过撕裂将就信号引脚向测试控制单元发送撕裂将就信号脉冲；测试控制单元对撕裂将就信号脉冲的周期进行计算，获取撕裂将就信号周期；利用撕裂将就信号周期计算撕裂将就信号脉冲的撕裂将就信号频率，若撕裂将就信号频率在规定频率范围，且不少于规定数量，则判定撕裂将就信号模块正常。实现了对撕裂将就信号的自动判定，解决了消耗大量人力、物力，导致工厂的生产制造成本升高的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及amoled显示测试，特别涉及一种amoled显示屏的撕裂将就信号测试方法及系统。

技术介绍

1、amoled显示效果鲜艳，对比度高并且屏幕小等特点，被广泛的应于智能手表项目上。amoled显示屏模组在品牌客户智能手表项目上越来越被青睐，由于智能手表项目是消费类产品，所以amoled显示模组的出货量很大，所以在amoled显示模组出厂的测试也非常的严格。

2、如果不良品遗漏到客户端的话，后期的维护成本非常的高，也给公司带来很多负面的影响。在出厂实际测试时，需要对amoled显示模组的te信号(撕裂将就信号)引脚进行测试，保证te信号引脚出现的信号满足设置要求。

3、te信号主要用于解决显示中的撕裂问题，在液晶显示过程中，如果数据更新与屏幕刷新不同步，就可能出现画面撕裂的现象，te信号可以协调数据传输和屏幕刷新的节奏，确保显示的稳定性和完整性。所以te信号在客户端使用过程中扮演着非常重要的角色，每粒出厂amoled显示模组都得保证te信号的正确性。

4、目前，工厂线上对于te信号的测试手法，都是使用万用表的频本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤100包括：

3.根据权利要求2所述的AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤300包括：

4.根据权利要求2所述的AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤300包括：

5.根据权利要求3或4所述的AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤400包括：

6.根据权利要求5所述的AMOLED显示屏的撕裂将就信号测试...

【技术特征摘要】

1.一种amoled显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的amoled显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤100包括：

3.根据权利要求2所述的amoled显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤300包括：

4.根据权利要求2所述的amoled显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤300包括：

5.根据权利要求3或4所述的amoled显示屏的撕裂将就信号测试方法，其特征在于，所述步骤400包括：

6.根据权利要求5所述的a...

【专利技术属性】
技术研发人员：连东海，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：