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本申请公开了一种存储芯片的时序参数确定方法及控制器、设备、介质，涉及芯片测试技术领域。方法包括基于由初始发送延时与初始步进值确定的当前发送时延进行行列位置确定处理确定存储位置；根据基于存储位置和测试码型进行读写校验得到的校验结果，更新得到更...
该专利属于深圳市晶存科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市晶存科技股份有限公司授权不得商用。

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