专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
拓荆科技上海有限公司
>
一种晶圆载盘的校准机构及其薄膜沉积设备、校准方法技术
>技术资料下载
下载一种晶圆载盘的校准机构及其薄膜沉积设备、校准方法的技术资料
文档序号:44414915
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种晶圆载盘的校准机构,其包括:载盘,连接于所述载盘的底部中心的支撑件以及校准组件,所述支撑件内沿长度方向设有通腔,所述校准组件包括定位柱以及用于检测所述定位柱的位移检测传感器单元;所述定位柱穿设于所述通腔,且顶部固定连接于所述...
该专利属于拓荆科技(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过拓荆科技(上海)有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。