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本申请公开了一种发光二极管的峰值波长调整方法、装置、设备及介质，涉及半导体电路控制技术领域，包括：监测发光二极管在工作状态下的光谱，并基于光谱确定发光二极管的实际峰值波长；获取发光二极管在工作状态下的目标峰值波长，并将实际峰值波长和目标峰值...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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