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本发明提供一种基于聚类的测试图形绘制优化方法、系统及终端，首先根据预设的版图面积和单个测试图形的面积，计算出可放置的测试图形数量。接着枚举所有可能的设计参数组合并过滤违反设计规则的组合。然后从剩余的有效组合中确定目标设计参数组合。进一步根据...
该专利属于华芯程（杭州）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华芯程（杭州）科技有限公司授权不得商用。

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