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本申请涉及半导体电子探测技术领域，尤其是涉及一种微通道板电压调整方法、装置、设备及介质，对电压初始参数分析得到第一待调节电压参数；对第一待调节电压参数进行第一参数测试并获取测试结果，对光斑指标组信息进行第一电压优化分析，在光斑指标组信息达到...
该专利属于深圳市埃芯半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市埃芯半导体科技有限公司授权不得商用。

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