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本发明公开了一种应用于光芯片测试的噪声校正系统，包括光源模块、偏振控制模块、光功率监测模块、光传输模块和光功率探测模块；光源模块输出光束用于光芯片测试，入射至偏振控制模块；偏振控制模块将光源模块的输出光束调制为具有特定偏振状态的光；光功率监...
该专利属于希烽光电科技（南京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过希烽光电科技（南京）有限公司授权不得商用。

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