温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种壁厚均匀度测量装置，包括位移平台、相对于位移平台的位移部分固定安装的测试工装、设于测试工装下表面的电容式传感器和霍尔探头、布置于霍尔探头上表面的永磁铁磁柱、以及分体式磁珠。本发明的壁厚均匀度测量装置属于半接触式测量，可以在测量...
该专利属于中国科学院上海高等研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海高等研究院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。