下载芯片可测试性设计程序代码生成装置及方法的技术资料

文档序号:44133750

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本发明提供一种芯片可测试性设计程序代码生成装置及方法,该装置包括芯片设计文件处理模块,用于接收芯片设计文件;可测试性设计电路生成与标记模块,用于根据芯片的可测试性设计规则在芯片的电路中添加测试点和观察点;资源动态计算模块,用于根据展平化规则...
该专利属于珠海硅芯科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过珠海硅芯科技有限公司授权不得商用。

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