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本发明涉及设备测试领域,公开了一种用于电子产品的EMC测试方法及测试系统,包括:获取产品信息,在云端数据服务器中获取产品的EMC测试策略,所述EMC测试策略包括电磁发射(EMI)测试策略和电磁敏感度(EMS)测试策略;在生产完成的产品中按照...该专利属于深圳华龙讯达信息技术股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳华龙讯达信息技术股份有限公司授权不得商用。
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本发明涉及设备测试领域,公开了一种用于电子产品的EMC测试方法及测试系统,包括:获取产品信息,在云端数据服务器中获取产品的EMC测试策略,所述EMC测试策略包括电磁发射(EMI)测试策略和电磁敏感度(EMS)测试策略;在生产完成的产品中按照...