一种用于电子零部件的EMC测试方法及测试系统技术方案

本发明专利技术涉及设备测试领域，公开了一种用于电子产品的EMC测试方法及测试系统，包括：获取产品信息，在云端数据服务器中获取产品的EMC测试策略，所述EMC测试策略包括电磁发射（EMI）测试策略和电磁敏感度（EMS）测试策略；在生产完成的产品中按照设定的比例，获取待测产品，将待测产品分成EMI测试组和电磁敏感度测试组，对电磁发射测试组进行电磁发射测试，对电磁敏感度测试组进行电磁敏感度测试，根据电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格率，得到待测产品的合格率，根据产品分类和合格率，得到待测产品EMC数据，完成电子产品的EMC测试。本发明专利技术通过综合评估电磁发射测试和电磁敏感度测试的结果，得出产品的EMC性能合格率，为产品的质量控制提供了有力的支持。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及设备测试领域，具体是一种用于电子产品的emc测试方法及测试系统。

技术介绍

1、在当今高度信息化发展的进程中，电子产品设备和技术越来越多的应用于社会各个领域，这些产品和技术尤其在现代制造业中起着至关重要的作用，它们帮助提高了生产效率、产品质量和生产灵活性，同时降低了成本和能耗。随着物联网技术的发展，电子产品正朝着智能化、互联化和可视化的方向发展，然而，随着电子产品功能的日益复杂和集成度的不断提高，其电磁兼容性（electromagnetic compatibility, emc）问题也日益凸显。emc是指电子设备在电磁环境中能正常工作且不对其环境中的其他设备产生不可接受的电磁干扰的能力。良好的emc性能是确保电子产品稳定、可靠运行的关键，也是产品能否顺利进入市场并获得用户认可的重要因素。

2、传统的emc测试方法往往依赖于人工操作，测试过程繁琐且效率低下，难以满足现代工控产品快速迭代更新的需求。此外，传统测试方法还存在测试策略单一、测试数据不准确、测试结果难以追溯等问题，严重影响了产品emc性能的评估和改进。</p>
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【技术保护点】

1.一种用于电子产品的EMC测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的EMC测试方法，其特征在于，所述的在生产完成的产品中按照设定的比例，获取待测产品，将待测产品分成电磁发射测试组和电磁敏感度测试组，包括：

3.根据权利要求2所述的一种用于电子产品的EMC测试方法，其特征在于，所述的对电磁发射测试组中的待测产品根据电磁发射测试策略进行传导发射测试，得到测试干扰数据，包括：

4.根据权利要求3所述的一种用于电子产品的EMC测试方法，其特征在于，所述的对电磁敏感度测试组中的待测产品根据电磁敏感度测试策略进行传导敏感度测...

【技术特征摘要】

1.一种用于电子产品的emc测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的emc测试方法，其特征在于，所述的在生产完成的产品中按照设定的比例，获取待测产品，将待测产品分成电磁发射测试组和电磁敏感度测试组，包括：

3.根据权利要求2所述的一种用于电子产品的emc测试方法，其特征在于，所述的对电磁发射测试组中的待测产品根据电磁发射测试策略进行传导发射测试，得到测试干扰数据，包括：

4.根据权利要求3所述的一种用于电子产品的emc测试方法，其特征在于，所述的对电磁敏感度测试组中的待测产品根据电磁敏感度测试策略进行传导敏感度测试，得到传导抗干扰数据，若传导抗干扰合格，则传导敏感度测试合格，包括：

5.根据权利要求4所述的一种用于电子产品的emc测试方法，其特征在于，所述的根据电磁敏感度测试合格的产品得到电磁敏感度合格率，根据电磁发射测试合格的产品，得到电磁发射测试合格率，根据电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙小昂，胡丽华，吴耿金，
申请(专利权)人：深圳华龙讯达信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：