System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种用于电子零部件的EMC测试方法及测试系统技术方案_技高网

一种用于电子零部件的EMC测试方法及测试系统技术方案

技术编号:44091200 阅读:24 留言:0更新日期:2025-01-21 12:27
本发明专利技术涉及设备测试领域,公开了一种用于电子产品的EMC测试方法及测试系统,包括:获取产品信息,在云端数据服务器中获取产品的EMC测试策略,所述EMC测试策略包括电磁发射(EMI)测试策略和电磁敏感度(EMS)测试策略;在生产完成的产品中按照设定的比例,获取待测产品,将待测产品分成EMI测试组和电磁敏感度测试组,对电磁发射测试组进行电磁发射测试,对电磁敏感度测试组进行电磁敏感度测试,根据电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格率,得到待测产品的合格率,根据产品分类和合格率,得到待测产品EMC数据,完成电子产品的EMC测试。本发明专利技术通过综合评估电磁发射测试和电磁敏感度测试的结果,得出产品的EMC性能合格率,为产品的质量控制提供了有力的支持。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及设备测试领域,具体是一种用于电子产品的emc测试方法及测试系统。


技术介绍

1、在当今高度信息化发展的进程中,电子产品设备和技术越来越多的应用于社会各个领域,这些产品和技术尤其在现代制造业中起着至关重要的作用,它们帮助提高了生产效率、产品质量和生产灵活性,同时降低了成本和能耗。随着物联网技术的发展,电子产品正朝着智能化、互联化和可视化的方向发展,然而,随着电子产品功能的日益复杂和集成度的不断提高,其电磁兼容性(electromagnetic compatibility, emc)问题也日益凸显。emc是指电子设备在电磁环境中能正常工作且不对其环境中的其他设备产生不可接受的电磁干扰的能力。良好的emc性能是确保电子产品稳定、可靠运行的关键,也是产品能否顺利进入市场并获得用户认可的重要因素。

2、传统的emc测试方法往往依赖于人工操作,测试过程繁琐且效率低下,难以满足现代工控产品快速迭代更新的需求。此外,传统测试方法还存在测试策略单一、测试数据不准确、测试结果难以追溯等问题,严重影响了产品emc性能的评估和改进。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种用于电子产品的emc测试方法,包括如下步骤:

2、步骤一,获取产品信息,在云端数据服务器中获取产品的emc测试策略,所述emc测试策略包括电磁发射测试策略和电磁敏感度测试策略;所述的电磁发射测试策略包括传导发射测试和辐射发射测试;所述的电磁敏感度测试包括传导敏感度测试和辐射敏感度测试;

3、步骤二,在生产完成的产品中按照设定的比例,获取待测产品,将待测产品分成电磁发射测试组和电磁敏感度测试组,对电磁发射测试组进行电磁发射测试,进入步骤三;对电磁敏感度测试组进行电磁敏感度测试,进入步骤四;

4、步骤三,对电磁发射测试组中的待测产品根据电磁发射测试策略进行传导发射测试,得到测试干扰数据,若测试干扰数据在设计干扰数据范围内,则传导发射测试合格,进行辐射发射测试,否则,电磁发射测试不合格;根据辐射发射测试得到测试辐射数据,若测试辐射数据在设计辐射数据范围内,则电磁发射测试合格,进入步骤五,否则,电磁发射测试不合格;

5、步骤四,对电磁敏感度测试组中的待测产品根据电磁敏感度测试策略进行传导敏感度测试,得到传导抗干扰数据,若传导抗干扰合格,则传导敏感度测试合格,进行辐射敏感度测试,否则,电磁敏感度测试不合格;根据辐射敏感度测试得到测试抗干扰数据,若测试抗干扰数据在设计抗干扰数据范围内,则电磁敏感度测试合格,进入步骤五,否则,电磁敏感度测试不合格;

6、步骤五,根据电磁敏感度测试合格的产品得到电磁敏感度合格率,根据电磁发射测试合格的产品,得到电磁发射测试合格率,根据电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格率,得到待测产品的合格率,若待测产品的合格率不小于设定合格率,则待测产品合格,进入步骤六,否则,待测产品不合格;

7、步骤六,根据产品分类和合格率,得到待测产品emc数据,完成电子产品的emc测试。

8、进一步的,所述的在生产完成的产品中按照设定的比例,获取待测产品,将待测产品分成电磁发射测试组和电磁敏感度测试组,包括:

9、所述的设定的比例为在生产出产品的生产线上,按照设定的产品间隔数量,选取生产完成的产品,轮流分配到电磁发射测试组和电磁敏感度测试组,直到电磁发射测试组和电磁敏感度测试组均达到设定的测试数量。

10、进一步的,所述的对电磁发射测试组中的待测产品根据电磁发射测试策略进行传导发射测试,得到测试干扰数据,包括:

11、待测产品根据传导发射测试的产品运行参数运行,得到待测产品输出信号中的电磁干扰强度和干扰频率。

12、进一步的,所述的对电磁敏感度测试组中的待测产品根据电磁敏感度测试策略进行传导敏感度测试,得到传导抗干扰数据,若传导抗干扰合格,则传导敏感度测试合格,包括:

13、所述的传导抗干扰数据包括抗干扰强度、抗干扰电路模块的抗干扰一致性;所述的抗干扰强度为:产品输出数据与标准数据的差值为设定数据偏差阈值是对应的传导干扰强度为最大抗干扰强度;

14、所述的抗干扰电路模块的一致性为:根据得到的最大抗干扰强度,若与设计最大抗干扰强度的差值在偏差范围内,则产品的抗干扰电路模块抗干扰一致,否则,则不一致;

15、若产品的抗干扰电路模块抗干扰一致,则传导抗干扰合格。

16、进一步的,所述的根据电磁敏感度测试合格的产品得到电磁敏感度合格率,根据电磁发射测试合格的产品,得到电磁发射测试合格率,根据电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格率,得到待测产品的合格率,包括:

17、根据得到的电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格率,电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格率中合格率较大的为待测产品合格率。

18、一种用于电子产品的emc测试系统,应用所述的一种用于电子产品的emc测试方法,包括emc测试模块、数据采集模块、云端数据服务器、数据处理模块和通信模块;

19、所述的emc测试模块、数据采集模块、通信模块分别与所述的数据处理模块连接;所述的云端数据服务器与所述的通信模块通信连接。

20、优选的,所述的emc测试模块包括电磁发射测试模块、电磁敏感度测试模块;所述的电磁发射测试模块、电磁敏感度测试模块分别与所述的数据处理模块连接。

21、优选的,所述的电磁发射测试装置包括传导发射测试模块、辐射发射测试模块;所述的传导发射测试模块、辐射发射测试模块分别与所述的数据处理模块连接。

22、优选的,所述的电磁敏感度测试装置包括传导敏感度测试模块、辐射敏感度测试模块;所述的传导敏感度测试模块、辐射敏感度测试模块分别与所述的数据处理模块连接。

23、本专利技术的有益效果是:

24、高测试效率:通过云端数据服务器获取产品的emc测试策略,实现了测试过程的自动化和智能化,大大缩短了测试周期,提高了测试效率。

25、增强测试准确性:科学合理的测试分组和比例设定,确保了测试结果的全面性和代表性。同时,通过精确的测量和数据分析,提高了测试数据的准确性和可靠性。

26、优化测试策略:根据产品的特性和应用环境,定制化的emc测试策略能够更准确地反映产品的emc性能,为产品的设计和改进提供有针对性的指导。

27、提升产品质量:通过综合评估电磁发射测试和电磁敏感度测试的结果,得出产品的emc性能合格率,为产品的质量控制提供了有力的支持。同时,生成的emc数据报告为产品的后续改进和优化提供了宝贵的参考依据。

28、实现远程监控与共享:通过通信模块将测试数据上传至云端数据服务器,实现了测试数据的远程访问和共享,便于多方协作和数据分析,进一步提升了测试的价值和效率。

29、降低成本:自动化的测试过程减少了人工干预,降低了测试成本。同时,通过精确的测试和数据分析,减少了因本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于电子产品的EMC测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的EMC测试方法,其特征在于,所述的在生产完成的产品中按照设定的比例,获取待测产品,将待测产品分成电磁发射测试组和电磁敏感度测试组,包括:

3.根据权利要求2所述的一种用于电子产品的EMC测试方法,其特征在于,所述的对电磁发射测试组中的待测产品根据电磁发射测试策略进行传导发射测试,得到测试干扰数据,包括:

4.根据权利要求3所述的一种用于电子产品的EMC测试方法,其特征在于,所述的对电磁敏感度测试组中的待测产品根据电磁敏感度测试策略进行传导敏感度测试,得到传导抗干扰数据,若传导抗干扰合格,则传导敏感度测试合格,包括:

5.根据权利要求4所述的一种用于电子产品的EMC测试方法,其特征在于,所述的根据电磁敏感度测试合格的产品得到电磁敏感度合格率,根据电磁发射测试合格的产品,得到电磁发射测试合格率,根据电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格率,得到待测产品的合格率,包括:

6.一种用于电子产品的EMC测试系统,其特征在于,应用权利要求1-5任一所述的一种用于电子产品的EMC测试方法,包括EMC测试模块、数据采集模块、云端数据服务器、数据处理模块和通信模块;

7.根据权利要求6所述的一种用于电子产品的EMC测试系统,其特征在于,所述的EMC测试模块包括电磁发射测试模块、电磁敏感度测试模块;所述的电磁发射测试模块、电磁敏感度测试模块分别与所述的数据处理模块连接。

8.根据权利要求7所述的一种用于电子产品的EMC测试系统,其特征在于,所述的电磁发射测试装置包括传导发射测试模块、辐射发射测试模块;所述的传导发射测试模块、辐射发射测试模块分别与所述的数据处理模块连接。

9.根据权利要求7所述的一种用于电子产品的EMC测试系统,其特征在于,所述的电磁敏感度测试装置包括传导敏感度测试模块、辐射敏感度测试模块;所述的传导敏感度测试模块、辐射敏感度测试模块分别与所述的数据处理模块连接。

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【技术特征摘要】

1.一种用于电子产品的emc测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的emc测试方法,其特征在于,所述的在生产完成的产品中按照设定的比例,获取待测产品,将待测产品分成电磁发射测试组和电磁敏感度测试组,包括:

3.根据权利要求2所述的一种用于电子产品的emc测试方法,其特征在于,所述的对电磁发射测试组中的待测产品根据电磁发射测试策略进行传导发射测试,得到测试干扰数据,包括:

4.根据权利要求3所述的一种用于电子产品的emc测试方法,其特征在于,所述的对电磁敏感度测试组中的待测产品根据电磁敏感度测试策略进行传导敏感度测试,得到传导抗干扰数据,若传导抗干扰合格,则传导敏感度测试合格,包括:

5.根据权利要求4所述的一种用于电子产品的emc测试方法,其特征在于,所述的根据电磁敏感度测试合格的产品得到电磁敏感度合格率,根据电磁发射测试合格的产品,得到电磁发射测试合格率,根据电磁敏感度合格率和电磁发射测试合格...

【专利技术属性】
技术研发人员:龙小昂胡丽华吴耿金
申请(专利权)人:深圳华龙讯达信息技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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