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本发明提供一种检查装置和检查方法，能够以简单的结构来观察光致发光的光和拉曼散射光两者，能够使晶体评价高度化。本实施方式的检查装置具有：脉冲光生成单元，其生成波长比试样的带隙所对应的光的波长更长的脉冲光，该脉冲光使试样进行多光子激发；聚光单元...
该专利属于雷射科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过雷射科技股份有限公司授权不得商用。

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