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本发明涉及智能半导体开关中的漏电流的检测。实施例涉及一种用于智能半导体开关的方法。该方法包括激活半导体开关，该半导体开关将提供供电电压的供电节点与连接到连接电负载的输出节点连接。由此，输出电压被施加到电负载上。该方法还包括执行漏电流测试。为...
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