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单晶硅的制造方法技术
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文档序号:43957807
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本发明是一种单晶硅的制造方法,其基于使用了会切磁场的CZ法,所述会切磁场由提拉炉所具备的上侧线圈及下侧线圈形成,该单晶硅的制造方法的特征在于,在直体工序中,将单晶硅的转速设为7rpm以上12rpm以下,将石英坩埚的转速设为1.0rpm以下,...
该专利属于信越半导体株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过信越半导体株式会社授权不得商用。
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