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基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统技术方案
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文档序号:43955817
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本发明公开了一种基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统,属于量子雷达和单光子探测技术领域,具体涉及一种基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像系统和方法,包括窄带能量‑时间纠缠双光子源、自由空间光学收发单元、物理信息获取单元;窄带能量‑...
该专利属于电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过电子科技大学授权不得商用。
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