【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及量子雷达和单光子探测，尤其涉及一种基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法、系统。
技术介绍
1、精密测距至今一直是人类研究的热门领域。它在定位与成像方面存在不可替代的作用，被广泛应用于卫星定位、雷达成像以及微表面探测。传统光学成像是通过调控光的强度、偏振、光谱、相位等物理量，获取与解译多维度光场信息，从而得到探测事物的物理信息。传统光学成像被应用于生物显微成像、高速摄影、光场成像、非视域成像、单像素成像和散射成像等领域。
2、量子理论建立以来，量子力学深入到实验与科学之中，特别是以量子纠缠为理论基础的测距方案正不断涌现。其中之一的量子关联测距目前还是一个崭新的研究领域。开展量子测距计数的研究不仅是有前瞻性的举措，而且还具有十分巨大的战略意义。利用纠缠光子对之间的关联性进行测距，与经典方法相比，具有更高的信噪比和信背比。然而，量子成像易受到环境光的影响。
3、因此，需要研发出一种基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法、系统来解决上述问题。
技术实现思路
<...【技术保护点】
1.基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统，其特征在于，包括：利用具有窄带能量—时间纠缠特性量子光源中的信号光子照射探测目标，通过目标反射的信号光子与闲频光子间的能量—时间纠缠特性进行符合计数，滤除不具备量子纠缠特性的背景光，并抑制纠缠光子传播期间的串扰，提高探测端的符合计数率与信背比，实现大背景噪声及远距离条件下的高质量成像。
2.根据权利要求1所述的基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统，其特征在于，符合计数率为：
3.根据权利要求1所述的基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统，其特征在于，信号光与闲频光入射到单光子...
【技术特征摘要】
1.基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统，其特征在于，包括：利用具有窄带能量—时间纠缠特性量子光源中的信号光子照射探测目标，通过目标反射的信号光子与闲频光子间的能量—时间纠缠特性进行符合计数，滤除不具备量子纠缠特性的背景光，并抑制纠缠光子传播期间的串扰，提高探测端的符合计数率与信背比，实现大背景噪声及远距离条件下的高质量成像。
2.根据权利要求1所述的基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统，其特征在于，符合计数率为：
3.根据权利要求1所述的基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像方法与系统，其特征在于，信号光与闲频光入射到单光子探测器的时候，其光场分别为：
4.基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像系统，其特征在于，包括：
5.根据权利要求4所述的基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像系统，其特征在于，激光泵浦源(1)包括半导体激光器、气体激光器、染料激光器和固体激光器中的任一种脉冲或者直流激光光源。
6.根据权利要求4所述的基于量子关联测量的高抗噪能力测距成像系统，其特征在于，泵浦滤波器(2)为环形器加光纤光栅组成的滤波器件、多层镀膜光学滤波器、微电...
【专利技术属性】
技术研发人员：欧中华，刘乔，张利勋，范潇东，卜裕文，蒙华科，周强，刘永，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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