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本申请的实施例揭示了一种电子元器件的温度检测方法、装置、设备及介质。该方法包括:获取电子元器件的历史温度数据,并基于历史温度数据构建电子元器件的温度分布模型;获取温度分布模型中电子元器件的平均温度,并基于平均温度确定电子元器件在不同温度情况...该专利属于重庆赛力斯凤凰智创科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过重庆赛力斯凤凰智创科技有限公司授权不得商用。
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