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磁性存储器元件制造技术
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文档序号:43935138
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本发明公开一种磁性存储器元件,包括一磁隧穿结叠层以及一盖层。该磁隧穿结叠层包括一参考层、一隧穿能障层,位于该参考层上,以及一自由层,位于该隧穿能障层上。该盖层设置在该磁隧穿结叠层上,并且包括一金属底层,直接接触该自由层、一氧化物盖层,位于该...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
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