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本发明提供一种晶圆检测装置。该晶圆检测装置中,信号发射单元位于晶圆的第一表面一侧,向晶圆的边缘区域发射检测光束;第一信号接收单元位于晶圆的第二表面一侧,接收检测该检测光束透过晶圆和保护层产生的透射光束并输出透射信号;第二信号接收单元位于晶圆...该专利属于芯恩(青岛)集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过芯恩(青岛)集成电路有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种晶圆检测装置。该晶圆检测装置中,信号发射单元位于晶圆的第一表面一侧,向晶圆的边缘区域发射检测光束;第一信号接收单元位于晶圆的第二表面一侧,接收检测该检测光束透过晶圆和保护层产生的透射光束并输出透射信号;第二信号接收单元位于晶圆...