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搭接阻抗的测量方法、测量装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸
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下载搭接阻抗的测量方法、测量装置及计算机可读存储介质的技术资料
文档序号:43911002
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本申请公开了一种搭接阻抗的测量方法、测量装置及计算机可读存储介质,该测量方法包括:在利用目标电压参数点亮目标子像素后,获取目标子像素的目标亮度;根据目标电压参数以及目标亮度,确定目标子像素的搭接阻抗。本申请所提供的测量方法能够简单且准确地测...
该专利属于合肥维信诺科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥维信诺科技有限公司授权不得商用。
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