搭接阻抗的测量方法、测量装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:43911002 阅读:26 留言:0更新日期:2025-01-03 13:19
本申请公开了一种搭接阻抗的测量方法、测量装置及计算机可读存储介质,该测量方法包括:在利用目标电压参数点亮目标子像素后,获取目标子像素的目标亮度;根据目标电压参数以及目标亮度,确定目标子像素的搭接阻抗。本申请所提供的测量方法能够简单且准确地测量子像素的搭接电阻。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及显示,特别是涉及一种搭接阻抗的测量方法、测量装置及计算机可读存储介质


技术介绍

1、近年来随着显示技术的发展与普遍,显示面板已被应用至各式的电子装置,例如手机、平板电脑或其他可携式电子装置。

2、本申请的专利技术人发现,目前在测量显示面板的参数时,步骤繁琐,且操作难度大。


技术实现思路

1、本申请提供一种搭接阻抗的测量方法、测量装置及计算机可读存储介质,能够简单且准确地测量子像素的搭接电阻。

2、本申请实施例第一方面提供一种搭接阻抗的测量方法,所述方法包括:在利用目标电压参数点亮目标子像素后,获取所述目标子像素的目标亮度;根据所述目标电压参数以及所述目标亮度,确定所述目标子像素的搭接阻抗。

3、在一实施方式中,所述根据所述目标电压参数以及所述目标亮度,确定所述目标子像素的搭接阻抗的步骤,包括:根据预先保存的第一目标关系,确定与所述目标亮度匹配的目标搭接阻抗,其中,所述第一目标关系为,在利用所述目标电压参数点亮子像素后,子像素的亮度值与子像素的搭接阻抗之间的对应关本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种搭接阻抗的测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标电压参数以及所述目标亮度,确定所述目标子像素的搭接阻抗的步骤,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述根据预先保存的第一目标关系,确定与所述目标亮度匹配的目标搭接阻抗之前,还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在利用目标电压参数点亮目标子像素后,获取所述目标子像素的目标亮度的步骤,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种搭接阻抗的测量方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标电压参数以及所述目标亮度,确定所述目标子像素的搭接阻抗的步骤,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述根据预先保存的第一目标关系,确定与所述目标亮度匹配的目标搭接阻抗之前,还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在利用目标电压参数点亮目标子像素后,获取所述目标子像素的目标亮度的步骤,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标灰阶,得到所述目标亮度的...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕兰芬曹培轩张露赵利军
申请(专利权)人:合肥维信诺科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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