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本发明提供了一种缺陷分类方法、装置及存储介质，所述缺陷分类方法包括：提供若干待分类的缺陷图像，其包括缺陷部分及背景部分；获取待分类的缺陷图像的背景部分；比对待分类的缺陷图像中任意两个缺陷图像的背景部分之间的相似度，将所述相似度大于或等于预设...
该专利属于上海集成电路研发中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海集成电路研发中心有限公司授权不得商用。

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