温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种高压下原位测量半导体材料电学性质的方法，包括在金刚石对顶砧面上形成金属电极的电极形成步骤，所述电极形成步骤包括：在金刚石对顶砧面上形成一层钼电极膜；对所述钼电极膜进行图形化，以形成所需的电极图案；在所述钼电极膜上形成一层用作...
该专利属于徐州工程学院所有，仅供学习研究参考，未经过徐州工程学院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。