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本发明涉及电子技术测试的技术领域。本申请涉及一种集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质，包括获取集成电路测试信息，根据集成电路测试信息匹配测试配置文件，根据测试配置文件，得到预设的测试信号，将预设的测试信号输入到待测试的集成电路，采...
该专利属于深圳市诚芯微科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市诚芯微科技股份有限公司授权不得商用。

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