【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子技术测试的，尤其是涉及一种集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质。
技术介绍
1、随着电子技术的快速发展，集成电路已广泛应用于各类电子设备中。为确保集成电路的性能和稳定性，对其进行准确的测试显得至关重要。目前，虽然已有多种集成电路测试技术，但这些技术在测试信号生成、信号采集与分析等方面仍存在不足，如测试精度不高、测试效率低下等问题。
2、现有的集成电路测试方法通常依赖于固定的测试信号和参数设置，而无法根据不同集成电路的特性和需求进行灵活调整。这导致了测试结果的局限性和不准确性。
3、因此，如何提供一种能够根据不同集成电路特性灵活生成测试信号、高效采集并分析输出信号、准确评估集成电路性能的测试方法，成为当前电子
亟待解决的问题。
技术实现思路
1、为了实现集成电路测试的准确性和效率，本申请提供一种集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质。
2、本申请的上述专利技术目的一是通过以下技术方案得以实现的：
3、一...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件，包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法，还包括：
4.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件，还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试配置文件，得到预设的测试信号，包
6...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件，包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法，还包括：
4.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件，还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试配置文件，得到预设的测试信号，包括：
6.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述将所述预设的测试信...
【专利技术属性】
技术研发人员：何刚，曹建林，
申请(专利权)人：深圳市诚芯微科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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