【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子技术测试的，尤其是涉及一种集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质。
技术介绍
1、随着电子技术的快速发展，集成电路已广泛应用于各类电子设备中。为确保集成电路的性能和稳定性，对其进行准确的测试显得至关重要。目前，虽然已有多种集成电路测试技术，但这些技术在测试信号生成、信号采集与分析等方面仍存在不足，如测试精度不高、测试效率低下等问题。
2、现有的集成电路测试方法通常依赖于固定的测试信号和参数设置，而无法根据不同集成电路的特性和需求进行灵活调整。这导致了测试结果的局限性和不准确性。
3、因此，如何提供一种能够根据不同集成电路特性灵活生成测试信号、高效采集并分析输出信号、准确评估集成电路性能的测试方法，成为当前电子
亟待解决的问题。
技术实现思路
1、为了实现集成电路测试的准确性和效率，本申请提供一种集成电路测试方法、装置、计算机设备以及存储介质。
2、本申请的上述专利技术目的一是通过以下技术方案得以实现的：
3、一种集成电路测试方法，所述集成电路测试方法包括：
4、获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件；
5、根据所述测试配置文件，得到预设的测试信号；
6、将所述预设的测试信号输入到待测试的集成电路，采集输出信号，得到集成电路分析结果；将所述集成电路分析结果与预设分析结果进行比较，生成测试报告。
7、通过采用上述技术方案，通过自动获取集
8、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件，包括：
9、基于所述集成电路待测试信息，得到测试参数，所述测试参数包括待测试集成电路的型号、测试模式和测试条件；
10、根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件。
11、通过采用上述技术方案，根据具体的集成电路型号、测试模式和测试条件来选择合适的测试配置文件，确保测试参数的精准匹配。减少了因参数设置错误而导致的测试偏差，提高了测试的准确性。预设的测试配置文件数据库经过严格验证和标准化处理，确保其中的每个配置文件都能准确反映不同测试条件下的需求。这样可以减少配置文件中的错误和不一致性，进一步提高测试的可靠性。
12、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述集成电路测试方法，还包括：
13、实时监控所述集成电路的测试状态和信号变化，得到监控结果，根据所述监控结果调整所述测试参数。
14、通过采用上述技术方案，通过实时监控，可以迅速发现和纠正任何偏差，确保测试信号和结果的准确性。实时调整测试参数减少了手动干预的需要，缩短了测试周期，提高了测试效率。监控结果的实时反馈使得系统能够动态调整测试参数，以应对测试过程中出现的任何不确定性或变化，确保测试过程的稳定性和连续性。
15、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件，还包括：
16、在所述预设的测试配置文件数据库中，基于所述测试参数执行多维索引搜索，得到测试搜索结果；
17、通过机器学习算法对所述测试搜索结果进行排序，选择与所述测试参数匹配度最高的测试配置文件。
18、通过采用上述技术方案，多维索引搜索结合机器学习算法能够更准确地匹配测试参数，确保选择的测试配置文件最适合当前待测试的集成电路。
19、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述测试配置文件，得到预设的测试信号，包括：
20、根据所述测试配置文件中的信号参数，所述信号参数包括信号类型、频率、幅度和波形特征；基于所述信号参数，通过信号生成算法得到所述预设的测试信号。
21、通过采用上述技术方案，通过精确定义信号类型、频率、幅度和波形特征，确保生成的测试信号严格符合预设的测试标准，减少了误差和偏差，提高了测试的精度。自动化生成测试信号过程减少了手动设置和调整信号参数的时间，提高了测试准备和执行的效率，缩短了测试周期。
22、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述将所述预设的测试信号输入到待测试的集成电路，采集输出信号，得到集成电路分析结果，包括：
23、将所述预设的测试信号输入到所述待测试的集成电路中，实时采集所述待测试的集成电路的输出信号；
24、对所述输出信号进行误差检测，比较所述输出信号与预期信号之间的差异，得到误差值；分析所述输出信号的响应时间，评估所述待测试的集成电路在输入信号变化时的反应速度；评估所述输出信号的稳定性，检查所述输出信号是否在预期范围内波动；
25、测量所述输出信号的电压和电流值，确保其在安全和预期的工作范围内；
26、将所述误差值、所述输出信号的响应时间、所述输出信号的稳定性，所述输出信号的电压和电流值综合处理，得到所述集成电路分析结果。
27、通过采用上述技术方案，通过比较输出信号与预期信号之间的差异，准确识别出集成电路的性能偏差，确保测试结果的精确性。评估集成电路在输入信号变化时的反应速度，有助于识别响应迟缓的问题，确保集成电路在实际应用中的性能。检查输出信号的波动情况，确保信号稳定在预期范围内，防止集成电路在运行过程中出现不稳定现象。确保输出信号的电压和电流值在安全和预期的工作范围内，防止过载或其他电气问题，保障集成电路的可靠性和安全性。通过实时采集和综合处理多项性能指标(误差值、响应时间、稳定性、电压和电流)，快速得到集成电路的全面分析结果，提高了测试效率。
28、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述将所述集成电路分析结果与预设分析结果进行比较，生成测试报告，包括：
29、将所述集成电路分析结果与所述预设分析结果进行比对，得到误差检测结果；
30、根据所述误差检测结果，评估所述待测试的集成电路的性能是否符合预期，得到评估结果；根据所述评估结果，生成所述测试报告，所述测试报告包括，所述集成电路性能指标、所述集成电路误差率和所述集成电路故障位置。
31、通过采用上述技术方案，通过将集成电路的实际分析结果与预设的标准结果进行比对，可以本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件，包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法，还包括：
4.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件，还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试配置文件，得到预设的测试信号，包括：
6.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述将所述预设的测试信号输入到待测试的集成电路，采集输出信号，得到集成电路分析结果，包括：
7.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述将所述集成电路分析结果与预设分析结果进行比较，生成测试报告，包括：
8.一种集成电路测试装置，其特征在于，所述集成电路测试装置包括：
9.一种计算机设备，包括存储
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述集成电路测试方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述获取集成电路测试信息，根据所述集成电路测试信息匹配测试配置文件，包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述集成电路测试方法，还包括：
4.根据权利要求2所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参数查询预设的测试配置文件数据库，选择匹配的所述测试配置文件，还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述根据所述测试配置文件，得到预设的测试信号，包括：
6.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于，所述将所述预设的测试信...
【专利技术属性】
技术研发人员：何刚，曹建林，
申请(专利权)人：深圳市诚芯微科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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