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层叠结构及薄膜晶体管制造技术
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文档序号:43889568
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一种层叠结构,具有以I n为主成分的晶体氧化物半导体膜(11)和与所述晶体氧化物半导体膜(11)相接地层叠的第一绝缘膜(12),所述晶体氧化物半导体膜(11)的平均硅浓度为1.5~10at%。...
该专利属于出光兴产株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过出光兴产株式会社授权不得商用。
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