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本申请公开的属于芯片测试技术领域，具体为光模块芯片自动测试设备，包括工作台，所述工作台上连接有用于输送料盘的送料部、用于抓取料盘中工件的定位抓取部、用于对工件位置纠偏的相机二、用于对工件测试位置调节的测试对位组件、用于对工件进行测试的测试组...
该专利属于深圳市耐斯特自动化设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市耐斯特自动化设备有限公司授权不得商用。

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