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本发明公开了一种提升晶圆WAT测试产能的测试方法及系统，涉及LED技术领域，所述方法包括：根据目标点测颗数分别对当前批次内的晶圆进行分区处理，以选取目标芯粒；依次对当前晶圆内的目标芯粒进行WAT测试；若当前晶圆内的目标芯粒均完成WAT测试，...
该专利属于江西兆驰半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江西兆驰半导体有限公司授权不得商用。

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